外媒报道称,美国能源部下属的劳伦斯伯克利国家实验室,刚刚安装了一台新型电子探测器,能够以更快的速度捕获原子级图像。这项技术的应用,有望帮助科学家们更好地理解电池和微芯片组件中的状况,实现更好的损伤控制与防护。这台探测器能够在原子尺度上记录图像和发现缺陷,速度是当前设备的 60 倍。
升级后的透射电子像差校正显微镜(TEAM 0.5)
这台探测器被称作“4D 摄像机”,每分钟可输出大约 4TB 数据,使得科学家能够回顾事件的全貌,而不仅仅是一张张静态的图像。
4D 超高速检测器的核心组件(图自:Berkeley Lab)
来自伯克利实验室分子铸造厂、科学家之一的 Peter Ercius 表示 —— 其数据量相当于同时观看约 6 万部高清电影。
为处理如此大的数据,需要团队在显微镜和超级计算机之间建立一个强大的网络,才能让科学家记录和回顾实验过程中的每一个电子的变化。
左起为 Ian Johnson、Jim Ciston、Peter Denes 和 Peter Ercius
科学家 Jim Ciston 表示 —— 通过这个庞大的数据集,我们能够对样本进行‘虚拟’实验,而无需返回并从不同的成像条件中获取新数据。
标签: 4D电子显微镜
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